您好,欢迎来到中国浙江网上技术市场! 登录 快速注册 帮助中心 客服电话: 0571-85009137

成果
  • 成果
  • 需求
  • 专家
  • 中介
搜索

首页> 技术成果

一种光学薄膜偏振保真度的测量方法

评论:0 发布时间:2020-03-25
行业领域:信息传输、软件和信息技术服务业 —— 科技推广和应用服务业
专利信息: 非专利技术
成熟度: 可以量产
技术合作方式: 完全转让 许可转让 技术入股 合作生产 其他
技术推广方式: 正在技术推广
技术交易价格: 面议
  • 信息描述
应用行业领域 电子信息-光电子
适用范围
成果内容简介 应用领域:该成果光学检测领域,用于测量多个光学元件组成的光学系统的偏振保真度。本发明提供了一种光学薄膜偏振保真度的测量方法,包括:1、激光器发射 780nm 波长
的激光光束通过起偏器后产生偏振方位角 45°线偏振光。2、偏振方位角为 45°线偏振光经待测光学薄膜元件后出射光为椭圆偏振光。3、椭圆偏振光通过检偏器后的激光功率随检偏器旋转而发生变化。4、使用光功率计测量出最大功率与最小功率,则最大功率与最小功率之比即为待测光学薄膜的偏振保真度。5、计算公式为为椭圆偏振光长、短轴之比。
本发明测量简单,成本低,操作方便等优点,同时,可以测量多个光学元件组成的光学系统的偏振保真度。
前期应用示范情况
获得研发资助情况
转化应用前景
  • 用户点评
共0条记录
到第 确定

我要点评

项目打分:
1 2 3 4 5

提交

联系方式

推荐