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半导体器件测量系统

评论:0 发布时间:2020-07-31
行业领域:制造业 —— 专用设备制造业
专利信息: 非专利技术
成熟度: 可以量产
技术合作方式: 其他
技术推广方式: 正在技术推广
技术交易价格: 面议
  • 信息描述
应用行业领域 装备制造-自动化
适用范围
成果内容简介
半导体器件测量系统(Semiconductor Devices Measurement System),简称 OSDMeas-1,已获得了甘肃省计量研究院颁发的“仪器校验证书”。该测量系统是一套可用于双端和三端有机电子器件的自动测量系统,主要应用于有机场效应晶体管(OFET)和有机二极管的测量;同时可适用于小功率无机半导体器件的测量。该测量系统的优势在 OFET 器件的测量中可以很好的体现,由于 OFET 器件的阻抗比较高,在测量中需要有弱电流的测量能力(nA 级或更小)和较高电压的输出能力(100V),该系统完全满足上述需求。OSDMeas-1 测量系统由计算机、数据采集卡、电压源和电流放大器等功能模块构成,实现了电压-电流特性的自动扫描测量。测量方式采用最简单的电压源方式,也就是施加电压,测量电流的方式。计算机与数据采集卡通过 PCI(或者 USB)接口连接,实现了软件系统对硬件的控制。测量数据和曲线实时显示,直观明了。该系列测量系统产品化后,与其他同类产品相比而言,将具有很高的性能价格比。有望在国内从事于有机半导体器件的科研单位及企业推广应用。
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